SYF:s vd-dag 2024

Varje år samlas branschföreningen Svensk Ytbehandlings Förening, SYF, för en vd-dag för aktuell information och samtal kring viktiga branschfrågor. I år hölls arrangemanget på konferensanläggningen Hasse på Sjökanten i Jönköping.

Vd-dagens syfte är att ledare från medlemsföretagen under en förmiddag får möjlighet att träffas och diskutera frågor som rör branschens och det egna företagets framtid. Dagen inleddes med en presentation av hur erbjudandet av SYF:s branschutbildning utvecklats sen den övertagits av en ny aktör. Det kommer att bli större valmöjligheter för deltagarna och därmed lättare att hitta den utbildningen som passar bäst för tillfället. 

De 30-tal deltagare som var på plats fick sedan ta del av en finansiell branschanalys över branschen där man får en möjlighet att följa branschens utveckling över tid men också att fundera över det egna företagets verksamhet i jämförelse med övriga och branschen som helhet. Det tittades också framåt med hjälp av en trendspaning både på kort och lång sikt. Båda dessa punkter initierade intressanta diskussioner.

SYF är starkt engagerat inom arbetet med standarder för branschen och vi har för närvarande tre deltagare i SIS, TK116 där vi även innehar ordförande posten. Två av våra representanter redogjorde för sitt arbete och visade på vikten av detta arbete som utförs både på nationell och internationell nivå. På internationell nivå (ISO) är det särskilt viktigt att närvara för att bevaka svenska och europeiska intressen då den asiatiska delegationen ofta är stor på dessa möten.

En av de utmaningar som vi har arbetat med under en längre tid, och både ser fram mot och kommer att utmanas av när den är införd, är STM-Bref som ligger under det Europeiska Industriutsläppsdirektivet (IED). Denna gång hölls ett föredrag för att uppdatera oss om var i processen vi står, när det senast ska vara infört i våra anläggningar och hur detta kommer att påverka våra verksamheter.

Vd-dagen avslutades med en gemensam lunch.

//Sven-Erik Neergaard-Möller

Ordförande i SYF